| 圖片 | 名稱/價格/廠家 | 參數 | 詳細資料 |
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名稱：上海儀電物光WZZ-3自動旋光儀 市場價格： 優惠價格： |
型號：WZZ-3 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 采用光電檢測和微機控制技術，大屏幕背光液晶顯示，可測試比旋度、旋光度、糖度、可自動復測6次并計算均值和均方根，配有RS232接口，可向PC機傳送數據。 性能指標 測量范圍 旋光度：-45°- +45° 糖 度：-120°Z - +120°Z（糖度） 最小讀數... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光WZZ-2S數字式自動旋光儀/2SS自動旋光 市場價格： 優惠價格： |
型號：WZZ-2S 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 采用國內最先進的數字電路及微機控制技術，背光液晶顯示，測試數據清晰靜觀，保存三次復測結果，并計算平均值，可測深色樣品，配有RS232接口，可向PC機傳送數據。 性能指標： 測量范圍 旋光度：2S:-45°- +45° 2SS：-120°Z - +120°Z（糖... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光WXG-4目視旋光儀 市場價格： 優惠價格： |
型號：WXG-4 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 采用目視瞄準，手動測量的方法，使用簡便。 性能指標 測量范圍：-180°～＋180° 最小讀數值：0.05° 準確度：0.05° 靈敏度：0.05° 目鏡放大倍率：4X... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光SGW?-5自動旋光儀（多波長） 市場價格： 優惠價格： |
型號：SGW?-5 是否有現貨： |
詳細介紹： 主要技術參數 測量模式：旋光度、比旋度、濃度、糖度 光源：20W鹵鎢燈 工作波長：405 nm 、436nm 、546.07nm、578nm、589nm、6323nm 可選 測量范圍：±89.999° 最小讀數：0.001° 示值誤差：±0.01°（... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光sgw?-731自動阿貝折射儀 市場價格： 優惠價格： |
型號：sgw?-731 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： sgw?-731自動阿貝折射儀是能測量透明、半透明液體的折射率nD和糖溶液的質量分數（Brix）的儀器。具有友好的操作界面、自動測量、測試速度快、重復性好、有溫度修正功能，體積小巧，數據存儲和打印功能。 特點： 全自動測量，避免了人為誤差； 操作方便，測試速度快... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光WYA阿貝折射儀(單目) 市場價格： 優惠價格： |
型號：WYA 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 測定液體或固體的折射率和糖水溶液中干固物的質量分數即錘度Brix,可以用于制糖、制藥、飲料、石油、食品、化工工業生產、科研、教育部門的檢測分析。采用目視瞄準，光學度盤讀數，簡單可靠。 性能指標： 折射率nD：1.3000-1.7000 糖溶液質量分散(Brix)... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光WYA-2S數字阿貝折射儀 市場價格： 優惠價格： |
型號：WYA－2S 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 測定液體或固體的折射率nD和糖水溶液中干固物的百分含量即Brix，采用目視瞄準，背光液晶顯示，測定錘度時進可進行溫度修正，棱鏡采用硬質玻璃，不易磨損。配有標準打印接口，可直接打印輸出數據。 性能指標： 測量范圍： 折射率nD：1.3000-1.7000 測量范圍... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光WYA-2W阿貝折射儀(雙目) 市場價格： 優惠價格： |
型號：WYA-2W 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 測定液體或固體的折射率和糖水溶液中干固物的質量分數即錘度Brix,可以用于制糖、制藥、飲料、石油、食品、化工工業生產、科研、教育部門的檢測分析。采用目視瞄準，光學度盤讀數，簡單可靠。 特點： 測定液體和固體的折射率nD、平均色散（nF~nC） 和糖水溶液中干固體的... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光WYV V棱鏡折射儀（光學式） 市場價格： 優惠價格： |
型號：WYV V 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： 測定透明或半透明液體和固體的折射率，平均色散或部分色散，是光學儀器廠及有關科研單位、高等院校必備儀器。采用目測瞄準，顯微讀數，測速快、精度高、使用方便，操作簡單。 特點： 本儀器可用來對透明或半透明固體和液體物質的折射率，平均色散和部分色散進行快速精確地測定(即能... 詳細 |
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名稱：上海儀電物光sgw?-733自動阿貝折射儀 市場價格： 優惠價格： |
型號：sgw?-733 是否有現貨： |
詳細介紹： 應用范圍： sgw?-733自動阿貝折射儀是能測量透明、半透明液體的折射率nD和糖溶液的質量分數（Brix）的儀器。具有友好的操作界面、自動測量、測試速度快、重復性好、有溫度修正功能，體積小巧，數據存儲和打印功能。配有半導體制冷加熱裝置。 特點： 全自動測量，避免了人為誤差；... 詳細 |